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Observation des défauts cristallins par microscopie électronique en champ noir faiblement excité
Auteur(s) : Guyot, P.
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Notice du document
- Titre / Title
- Observation des défauts cristallins par microscopie électronique en champ noir faiblement excité
- Auteur(s) / Author(s)
- Guyot P., auteur principal
- Type de document
- Article
- Collection
- Revue de l'aluminium
, N° 414, p. 50-55
- Publication
- Paris : L'Aluminium Français, 1973/01
- Description technique / Physical description
- 6 p. : ill.; 30 cm.
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- Langue / Language
- Français
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Description
- Résumé / Abstract
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