Observation des défauts cristallins par microscopie électronique en champ noir faiblement excité

Auteur(s) : Guyot, P.

• Notice du document

  Titre / Title

  Observation des défauts cristallins par microscopie électronique en champ noir faiblement excité

  Auteur(s) / Author(s)

  Guyot P., auteur principal

  Type de document

  Article

  Collection

  Revue de l'aluminium , N° 414, p. 50-55

  Publication

  Paris : L'Aluminium Français, 1973/01

  Description technique / Physical description

  6 p. : ill.; 30 cm.

• Langue / Language

  Français

• Description

  • Résumé / Abstract